Eddy Roger Simoen: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (30)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Germanium content dependence of the leakage current of recessed SiGe source/drain junctions

Eddy Roger Simoen, Mireia Bargallo Gonzalez, Geert Eneman, Peter Verheyen, Aldo Benedetti, Hugo Bender, Roger Loo, Cor Claeys

Журнал:

Journal of Materials Science: Materials in Electronics

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 255 KB

english, 2007

2

(Invited) Challenges on Surface Conditioning in 3D Device Architectures: Triple-Gate FinFETs, Gate-All-Around Lateral and Vertical Nanowire FETs

Veloso, Anabela, Paraschiv, Vasile, Vecchio, Emma, Devriendt, Katia, Li, Waikin, Simoen, Eddy, Chan, B. T., Tao, Zheng, Rosseel, Erik, Loo, Roger, Milenin, Alexey P., Kunert, Bernardette, Teugels, Lie

Журнал:

ECS Transactions

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 11.26 MB

english, 2017

3

Influence of the strain-relaxation induced defect creation on the leakage current of embedded Si1–xGex source/drain junctions

Mireia Bargallo Gonzalez, Eddy Simoen, Bertrand Vissouvanadin, Geert Eneman, Peter Verheyen, Roger Loo, Cor Claeys, Vladimir Machkaoutsan, Pierre Tomasini, Shawn Thomas

Журнал:

physica status solidi (c)

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 438 KB

english, 2009

4

[ECS 2009 International Conference on Semiconductor Technology for Ultra Large Scale Integrated Circuits and Thin Film Transistors (ULSIC vs. TFT) - Xi'an, China (July 5 - July 10, 2009)] ECS Transactions - Defect Aspects of Ge-on-Si Materials and Devices

Claeys, Cor, Eneman, Geert, Wang, Gang, Souriau, Laurent, Loo, Roger, Simoen, Eddy

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 771 KB

english, 2009

5

TCAD Strain Calibration Versus Nanobeam Diffraction of Source/Drain Stressors for Ge MOSFETs

Buhler, Rudolf Theoderich, Eneman, Geert, Favia, Paola, Witters, Liesbeth Johanna, Vincent, Benjamin, Hikavyy, Andriy, Loo, Roger, Bender, Hugo, Collaert, Nadine, Simoen, Eddy, Martino, Joao Antonio,

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.01 MB

english, 2015

6

[ECS 216th ECS Meeting - Vienna, Austria (October 4 - October 9, 2009)] ECS Transactions - Stress Characterization of Selective Epitaxial Si

Bargallo Gonzalez, Mireia, Fernandez-Lanas, Tatiana, Rosseel, Erik, Hikavyy, Andriy, Dekkers, Harold, Eneman, Geert, Verheyen, Peter, Loo, Roger, Simoen, Eddy R., Claeys, C.

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 701 KB

english, 2009

7

Compressively strained SiGe band-to-band tunneling model calibration based on p-i-n diodes and prospect of strained SiGe tunneling field-effect transistors

Kao, Kuo-Hsing, Verhulst, Anne S., Rooyackers, Rita, Douhard, Bastien, Delmotte, Joris, Bender, Hugo, Richard, Olivier, Vandervorst, Wilfried, Simoen, Eddy, Hikavyy, Andriy, Loo, Roger, Arstila, Kai,

Журнал:

Journal of Applied Physics

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.68 MB

english, 2014

8

[ECS 213th ECS Meeting - Phoenix, AZ (May 18 - May 23, 2008)] ECS Transactions - Impact of Millisecond Laser Anneal on the Thermal Stress- Induced Defect Creation in Si1-xGex Source /Drain Junctions

Bargallo Gonzalez, Mireia, Simoen, Eddy, Rosseel, Erik, Verheyen, Peter, Souriau, Laurent, Geypen, Jef, Bender, Hugo, Yves Hoffmann, Thomas, Loo, Roger, Absil, Philippe, Claeys, Cor

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 423 KB

english, 2008

9

(Invited) Electrical Activity of Extended Defects in III-V Semiconductors

Simoen, Eddy Roger, Hsu, P.-C., Mols, Yves, Kunert, Bernardette, Langer, Robert, Merckling, Clement, Alian, AliReza, Waldron, Niamh, Eneman, Geert, Collaert, Nadine, Heyns, Marc, Claeys, Cor

Журнал:

ECS Transactions

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 813 KB

english, 2019

10

[IEEE 2014 7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting (ISTDM) - Singapore, Singapore (2014.6.2-2014.6.4)] 2014 7th International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting (ISTDM) - Electrical characterization of pGeSn/nGe diodes

Baert, Bruno, Gupta, Somya, Gencarelli, Federica, Loo, Roger, Simoen, Eddy, Nguyen, Ngoc Duy

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 185 KB

english, 2014

11

Ge-Source Vertical Tunnel FETs Using a Novel Replacement-Source Integration Scheme

Rooyackers, Rita, Vandooren, Anne, Verhulst, Anne S., Walke, Amey Mahadev, Simoen, Eddy, Devriendt, Katia, Lo-Corotondo, Sabrina, Demand, Marc, Bryce, George, Loo, Roger, Hikavyy, Andriy, Vandeweyer,

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.18 MB

english, 2014

12

[ECS ISTC/CSTIC 2009 (CISTC) - Shanghai, China (March 19 - March 20, 2009)] ECS Transactions - Electrical Defect Issues of Hetero-Epitaxy for Advanced Nanometric CMOS Technologies

Claeys, Cor, Gonzalez, Mireia B., Eneman, G., Hikavyy, Andriy, Loo, Roger, Simoen, Eddy

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 356 KB

english, 2009

13

Influence of the Highly-Doped Drain Implantation and the Window Size on Defect Creation in p+/n Si1-XGex Source/Drain Junctions

Kamruzzaman Chowdhury, M., Vissouvanadin, B., Bargallo Gonzalez, Mireia, Bhouri, N., Verheyen, Peter, Hikavyy, H., Richard, O., Geypen, J., Bender, H., Loo, Roger, Claeys, C., Simoen, Eddy, Machkaouts

Журнал:

Solid State Phenomena

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 554 KB

english, 2008

14

Low Temperature Pre-Epi Treatment: Critical Parameters to Control Interface Contamination

Loo, Roger, Hikavyy, Andriy, Leys, Frederik E., Wada, Masayuki, Sano, Kenichi, De Vos, Brecht, Pacco, Antoine, Bargallo Gonzalez, Mireia, Simoen, Eddy, Verheyen, Peter, Vanherle, Wendy, Caymax, Matty

Журнал:

Solid State Phenomena

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 320 KB

english, 2009

15

[ECS 209th ECS Meeting - Denver, Colorado (May 7-May 12, 2006)] ECS Transactions - Defect Engineering Considerations for Strained Silicon Substrates

Claeys, C., Eneman, Geert, Scholz, Mirko, Loo, Roger, Verheyen, Peter, De Meyer, Kristin, Simoen, Eddy R.

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.14 MB

english, 2006

16

[ECS 214th ECS Meeting - Honolulu, HI (October 12 - October 17, 2008)] ECS Transactions - Electrical Activity of Dislocations and Defects in Strained Si and Ge Based Devices

Simoen, Eddy R., Eneman, Geert, Verheyen, Peter, Loo, Roger, Bargallo Gonzalez, Mireia, Claeys, Cor

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 704 KB

english, 2008

17

[ECS 216th ECS Meeting - Vienna, Austria (October 4 - October 9, 2009)] ECS Transactions - On the Low-frequency Noise Performance of Embedded Si:C nMOSFETs

Claeys, C., Simoen, Eddy R., Verheyen, Peter, Loo, Roger, Machkaoutsan, V., Bauer, Matthias, Thomas, Shawn

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 230 KB

english, 2009

18

ECS Transactions [ECS China Semiconductor Technology International Conference 2011 (CSTIC 2011) - Shanghai, China (March 13 - March 14, 2011)] - Growth and Processing Defects in CMOS Homo- and Hetero-Epitaxy

Simoen, Eddy, Bargallo Gonzalez, Mireia, Eneman, Geert, Rosseel, Eric, Hikavyy, Andriy Y., Kobayashi, D., Loo, Roger, Caymax, Matty, Claeys, Cor

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 821 KB

english, 2011

19

ECS Transactions [ECS 220th ECS Meeting - Boston, MA (October 9 - October 14, 2011)] - Elastic Relaxation Evaluation in SiGe/Si Hetero-Epitaxial Structures

Gonzalez, Mireia B., Naka, Nobuyuki, Hikavyy, Andriy, Eneman, Geert, Loo, Roger, Simoen, Eddy, Claeys, Cor

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.26 MB

english, 2011

20

[ECS 215th ECS Meeting - San Francisco, CA (May 24 - May 29, 2009)] ECS Transactions - Defects, Junction Leakage and Electrical Performance of Ge pFET Devices

Eneman, Geert, Simoen, Eddy, Yang, Rui, De Jaeger, Brice, Wang, Gang, Mitard, Jerome, Hellings, Geert, Brunco, David, Loo, Roger, De Meyer, Kristin, Caymax, Matty R., Claeys, Cor, Meuris, Marc, Heyns,

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 606 KB

english, 2009

21

Density and Capture Cross-Section of Interface Traps in GeSnO 2 and GeO 2 Grown on Heteroepitaxial GeSn

Gupta, Somya, Simoen, Eddy, Loo, Roger, Madia, Oreste, Lin, Dennis, Merckling, Clement, Shimura, Yosuke, Conard, Thierry, Lauwaert, Johan, Vrielinck, Henk, Heyns, Marc

Журнал:

ACS Applied Materials & Interfaces

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.54 MB

english, 2016

22

[ECS 211th ECS Meeting - Chicago, Illinois (May 6-May 10, 2007)] ECS Transactions - Relaxation-Induced Excess Leakage Current in Recessed Si

Gonzalez, Mireia B., Chowdhury, Mohammad Kamruzzaman, Bhouri, Nada, Verheyen, Peter, Leys, Frederik, Richard, Olivier, Loo, Roger, Claeys, Cor, Simoen, Eddy, Machkaoutsan, Vladimir, Tomasini, Pierre,

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 446 KB

english, 2007

23

Influence of precursor gas on SiGe epitaxial material quality in terms of structural and electrical defects

Ike, Shinichi, Simoen, Eddy, Shimura, Yosuke, Hikavyy, Andriy, Vandervorst, Wilfried, Loo, Roger, Takeuchi, Wakana, Nakatsuka, Osamu, Zaima, Shigeaki

Журнал:

Japanese Journal of Applied Physics

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.58 MB

english, 2016

24

On the Evolution of Strain and Electrical Properties in As-Grown and Annealed Si:P Epitaxial Films for Source-Drain Stressor Applications

Dhayalan, Sathish kumar, Kujala, Jiri, Slotte, Jonatan, Pourtois, Geoffrey, Simoen, Eddy, Rosseel, Erik, Hikavyy, Andriy, Shimura, Yosuke, Loo, Roger, Vandervorst, Wilfried

Журнал:

ECS Journal of Solid State Science and Technology

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.24 MB

english, 2018

25

On the manifestation of phosphorus-vacancy complexes in epitaxial Si:P films

Dhayalan, Sathish Kumar, Kujala, Jiri, Slotte, Jonatan, Pourtois, Geoffrey, Simoen, Eddy, Rosseel, Erik, Hikavyy, Andriy, Shimura, Yosuke, Iacovo, Serena, Stesmans, Andre, Loo, Roger, Vandervorst, Wil

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 669 KB

english, 2016

26

Electrical properties of extended defects in strain relaxed GeSn

Gupta, Somya, Simoen, Eddy, Loo, Roger, Shimura, Yosuke, Porret, Clement, Gencarelli, Federica, Paredis, Kristof, Bender, Hugo, Lauwaert, Johan, Vrielinck, Henk, Heyns, Marc

Журнал:

Applied Physics Letters

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.19 MB

english, 2018

27

Electrically Active Defects in Plated Crystalline Silicon n + p Solar Cells: A DLTS Perspective

Simoen, Eddy Roger, Dang, Chi, Labie, Riet, Poortmans, Jef

Журнал:

ECS Transactions

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 240 KB

english, 2018

28

Insights into the C Distribution in Si:C/Si:C:P and the Annealing Behavior of Si:C Layers

Dhayalan, Sathish Kumar, Nuytten, Thomas, Pourtois, Geoffrey, Simoen, Eddy, Pezzoli, Fabio, Cinquanta, Eugenio, Bonera, Emiliano, Loo, Roger, Rosseel, Erik, Hikavyy, Andriy, Shimura, Yosuke, Vandervor

Журнал:

ECS Journal of Solid State Science and Technology

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 995 KB

english, 2019

29

[IEEE 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) - Sao Paulo, Brazil (2019.8.26-2019.8.30)] 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) - Device-Based Threading Dislocation Assessment in Germanium Hetero-Epitaxy

Simoen, Eddy, Claeys, Cor, Oliveira, Alberto, Agopian, Paula, Martino, Joao, Hsu, Brent, Eneman, Geert, Rosseel, Eric, Loo, Roger, Arimura, Hiroaki, Horiguchi, Naoto, Wen, Wei-Chen, Nakashima, Hiroshi

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 398 KB

english, 2019

30

On the Correlation Between Static and Low-Frequency Noise Parameters of Vertical Nanowire nMOSFETs

Simoen, Eddy, Chasin, Adrian, Matagne, Philippe, Rosseel, Erik, Hikavyy, Andriy Yakovitch, Loo, Roger, Favia, Paola, Bender, Hugo, Vancoille, Eric, Veloso, Anabela

Журнал:

ECS Transactions

Рік:

2020

Файл:

PDF, 372 KB

2020